Description
Abstract: We investigate the relationship between immigrant status and mortgage delinquency in the United States. We find that after controlling for observables, newly arrived immigrants are likely to have a higher delinquency rate on mortgages than natives, while immigrants who have resided in the United States for more than 20 years are no different than natives in this regard. In addition, there is no evidence that the second generation of immigrants has a higher delinquency rate than the third-or-higher generation. Our results are robust to potential sample selection bias and functional misspecifications.
Résumé: Les auteurs étudient les liens éventuels entre le statut d’immigrant et la probabilité de défaillance sur les prêts hypothécaires aux États-Unis. Après avoir tenu compte d’un certain nombre de paramètres observables, ils constatent que les nouveaux immigrés sont susceptibles d’avoir un taux de défaillance sur leurs prêts hypothécaires plus élevé que les personnes ayant toujours vécu aux États-Unis, alors qu’ils n’ont observé aucune différence chez les immigrants qui y habitent depuis plus de 20 ans. De plus, rien n’indique que les enfants d’immigrants de seconde génération aient un taux de défaillance supérieur à celui de descendants de troisième génération ou d’une génération subséquente. Ces résultats ne sont pas sensibles à des biais de sélection ni à des erreurs de spécification fonctionnelles possibles.
Résumé: Les auteurs étudient les liens éventuels entre le statut d’immigrant et la probabilité de défaillance sur les prêts hypothécaires aux États-Unis. Après avoir tenu compte d’un certain nombre de paramètres observables, ils constatent que les nouveaux immigrés sont susceptibles d’avoir un taux de défaillance sur leurs prêts hypothécaires plus élevé que les personnes ayant toujours vécu aux États-Unis, alors qu’ils n’ont observé aucune différence chez les immigrants qui y habitent depuis plus de 20 ans. De plus, rien n’indique que les enfants d’immigrants de seconde génération aient un taux de défaillance supérieur à celui de descendants de troisième génération ou d’une génération subséquente. Ces résultats ne sont pas sensibles à des biais de sélection ni à des erreurs de spécification fonctionnelles possibles.